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口頭

中性子照射によるホウケイ酸ガラスへの影響

永井 崇之; 小林 秀和; 岡本 芳浩; 上原 章寛*; 藤井 俊行*

no journal, , 

ホウケイ酸ガラスの中性子照射による影響を調査するため、中性子照射後のガラス試料をラマン分光測定及び放射光XAFS測定により評価した。その結果、照射によってSi-O架橋構造や含有するCe原子価が変化することを確認した。

口頭

BK端XAFSによるホウ珪酸ガラスの配位状態評価

山中 恵介*; 永井 崇之; 太田 俊明*

no journal, , 

本研究は、立命館大学SRセンターBL-11において、放射性廃棄物のガラス固化プロセスにおける基礎的な知見を得ることを目的として、模擬廃棄物ガラスのホウ素近傍の局所構造解析・評価を行った。

口頭

マイナーアクチノイド回収用吸着材中の錯体構造評価

渡部 創; 佐野 雄一; 新井 剛*; 松浦 治明*; 清水 伸隆*; 高木 秀彰*

no journal, , 

使用済核燃料からマイナーアクチノイドを回収するための技術として開発している抽出クロマトグラフィ法では、多孔質シリカ粒子にポリマーを被覆し、抽出剤を含浸させたものを吸着材として用いる。本研究では、ポリマー構造や抽出剤の含浸量等が吸着材内部に形成される錯体の局所構造や凝集体の形成に及ぼす影響をEXAFS及びSAXS実験によって調査した。その結果、吸着材系では溶媒抽出系と同じような抽出剤の凝集挙動は示さず、低酸濃度域においては周期構造を有する錯体を形成することが明らかになった。

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